YS/T 364-2006 纯铱中杂质素的发射光谱分析
作者:标准资料网
时间:2024-05-08 12:45:12
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基本信息
| 标准名称： | 纯铱中杂质素的发射光谱分析 |
| 英文名称： | Determination of trace impurities in purity iridium by atomic emission spectrometric |
| 中标分类： | 冶金 >> 金属化学分析方法 >> 贵金属及其合金分析方法 |
| ICS分类： | 冶金 >> 金属材料试验 >> 金属材料化学分析 |
| 替代情况： | 替代YS/T 364-1994 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家发展和改革委员会 |
| 发布日期： | 2006-05-25 |
| 实施日期： | 2006-12-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 国家发展和改革委员会 |
| 提出单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 贵研铂业股份公司 |
| 起草人： | 文劲松、方卫、李楷中 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2006-12-01 |
| 页数： | 平装16 开， 页数：6， 字数：7千字 |
适用范围
本标准规定了纯铱中杂质含量的测定方法。本标准适用于99.9%～99.99%纯铱粉中杂质素含量的测定，测定素及含量范围见表1。
前言
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所属分类： 冶金 金属化学分析方法 贵金属及其合金分析方法 冶金 金属材料试验 金属材料化学分析
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